測試與檢查

在封裝後的最終測試中,與測試機搭配自動供應IC,並依測試結果加以分類的裝置為下列何者?

  1. A探針台(prober)
  2. B分選機(handler)
  3. C步進機(stepper)
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正確答案:B. 分選機(handler)

分選機是將封裝好的IC自動搬運到測試機的插座並壓接,測試後依結果分類為良品、不良品,或依性能等級分類的裝置。也有許多具備溫度控制功能,可在高溫或低溫下測試。以晶圓狀態測試時使用的是探針台,步進機則是曝光裝置。

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