氧化與擴散
將含有大量雜質的多晶矽(polysilicon)熱氧化時,下列特徵何者正確?
- A不會被氧化
- B受晶界與高濃度雜質的影響,多半比單晶氧化得更快,氧化層的品質也容易較差
- C必定與單晶矽以相同速度氧化
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正確答案:B. 受晶界與高濃度雜質的影響,多半比單晶氧化得更快,氧化層的品質也容易較差
多晶矽的晶粒方向雜亂且晶界很多,若再含有高濃度的磷等,氧化會比單晶更快。氧化沿著晶界進行,介面容易變得凹凸不平,電場集中在凸部,因此其上的氧化層在耐壓等品質上,往往比單晶的熱氧化層差。為了避免這個問題,快閃記憶體浮動閘極上方的絕緣膜一直使用 ONO 膜。
- A. 多晶矽也會被氧化。
- B. 正確。容易氧化得較快,膜的品質也容易較差。
- C. 受晶界與雜質影響,氧化速率與單晶不同。