工場に蓄積された大量の装置データ・計測データ・テスト結果を、機械学習などで解析して歩留まりを高める取り組みの説明として正しいものはどれか。

正解：C. 多くの変数の関係から、人では見つけにくい不良の原因や予兆を見つけ、改善や予測に役立てる

半導体工場では、1枚のウエハについて数千の工程と多数の計測・テストのデータが記録されます。これらを結びつけて機械学習などで解析すると、多くの変数が絡んだ不良の原因や、異常の予兆を見つけられることがあります。ただし、結果の検証には工程の知識が欠かせません。

• A. データを集めるだけで歩留まりが上がるわけではありません。
• B. テストは引き続き必要です。
• C. 正しい。不良の原因や予兆の発見に役立てます。