Comment appelle-t-on le test réalisé à la fréquence de fonctionnement réelle pour détecter les défauts dans lesquels la propagation des signaux est trop lente ?

Réponse : C. Test à vitesse réelle (at-speed)

Dans les LSI fins, des défauts de délai posent problème : le circuit fonctionne logiquement, mais un défaut minime allonge le temps de propagation des signaux. Le test at-speed positionne les valeurs par scan, puis applique deux impulsions d'horloge consécutives à la fréquence de fonctionnement réelle, issues de la PLL interne, pour vérifier que les transitions arrivent en une période. Il utilise des vecteurs fondés sur des modèles de faute de délai, comme les fautes de transition.