Fiabilité
Comment appelle-t-on la dégradation par laquelle la tension de seuil d'un transistor nMOS High-k/grille métallique dérive sous l'application continue d'une tension de grille positive et d'une température élevée ?
- ALatch-up
- BPBTI (instabilité en température sous polarisation positive)
- CÉlectromigration
Afficher la réponse et l'explication
Réponse : B. PBTI (instabilité en température sous polarisation positive)
La PBTI est une dégradation où la tension de grille positive et la température élevée appliquées à un nMOS font piéger des électrons dans les défauts du film High-k, augmentant la tension de seuil. Faible avec les isolants de grille en SiO2, elle est devenue un problème avec l'introduction de matériaux High-k riches en défauts comme le HfO2. C'est le pendant de la NBTI des pMOS, et toutes deux ralentissent les circuits. Le latch-up et l'électromigration sont d'autres défaillances.