Dans la conception des LSI avancés, comment appelle-t-on la démarche qui anticipe la dégradation des transistors par BTI ou HCI pendant la durée d'utilisation et vérifie que les contraintes temporelles restent satisfaites avec les caractéristiques dégradées ?

Réponse : C. Conception en fiabilité tenant compte du vieillissement (aging)

Les caractéristiques des transistors se dégradent progressivement en utilisation et les circuits ralentissent. La conception en fiabilité tenant compte du vieillissement prédit par des modèles la dégradation à partir de la tension, de la température et du taux d'activité de chaque transistor, puis effectue simulations de circuit et analyses temporelles avec les caractéristiques dégradées pour assurer une marge garantissant le respect des spécifications jusqu'en fin de vie. Une autre méthode surveille la dégradation en fonctionnement et relève progressivement la tension d'alimentation pour compenser le ralentissement.