Was ist Wafertest (Prober-Test)?

Prüfung der elektrischen Eigenschaften jedes Chips auf dem Wafer, indem Nadeln auf die Pads aufgesetzt werden, noch vor dem Vereinzeln. Fehlerhafte Chips werden vor der Montage erkannt und nicht unnötig gehäust.

Japanische Bezeichnung: ウエハテスト(プローブテスト)

Fachgebiet: Test und Inspektion

Verwandte Begriffe

ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) BIST (integrierter Selbsttest) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) Fehlerabdeckung (Fault Coverage) IDDQ-Test KGD (Known Good Die) Nadelkarte (probe card) Scan-Test (scan test)

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