可靠度
下列何者是HTOL會施加、但高溫儲存試驗不施加的應力？
- A高溫
- B高濕度
- C電源電壓等電氣偏壓
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正確答案：C. 電源電壓等電氣偏壓
高溫儲存試驗（HTS）是不施加電壓，將產品長時間置於例如150 ℃左右的高溫，並比較前後電氣特性的試驗。HTOL在高溫下施加電源電壓使產品運作，因此也會加速TDDB與電遷移等由電場或電流推動的劣化；高溫儲存試驗則能單獨評估僅由溫度造成的劣化。代表性的對象有：打線接合接點的介金屬化合物成長與空孔造成的電阻上升或剝離、非揮發性記憶體的資料保存，以及封裝膠體等材料的劣化。同時施加濕度與電壓的是高溫高濕偏壓試驗（THB）。
- A. 兩種試驗都會施加高溫。高溫儲存試驗是只施加溫度的試驗。
- B. 兩種試驗都不施加濕度。施加濕度與電壓的是高溫高濕偏壓試驗。
- C. 正確。高溫儲存試驗不施加電壓，只以溫度加速劣化。