可靠度
將TDDB的試驗結果外插到使用電壓時的模型，有以指數函數表示壽命與電場關係的E模型，以及以指數函數表示壽命與電場倒數關係的1/E模型。關於兩者的差異，下列何者正確？
- A1/E模型必定將壽命估得較短
- B外插到低電場時，所預測的壽命差異很大，E模型一般會將壽命估得較短（較保守）
- C兩個模型總是預測出相同的壽命
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正確答案：B. 外插到低電場時，所預測的壽命差異很大，E模型一般會將壽命估得較短（較保守）
將高電場下的試驗結果外插到實際使用電場的方式不同，所預測的壽命可能相差好幾個數量級。E模型（壽命∝exp(−γE)）預測低電場下的壽命較短，1/E模型（壽命∝exp(G/E)）則預測較長，因此在保守的評估中多半使用E模型。對於極薄的膜，也有人提出以電壓的冪次方表示的模型，至於哪一個合適，會依膜的種類與電場範圍而持續討論。
- A. 一般來說，E模型會將壽命估得較短。
- B. 正確。外插到低電場時差異很大，E模型較保守。
- C. 依外插方式不同，預測會有很大的差異。