在先進LSI的設計中，預期電晶體在使用期間會因BTI或HCI而劣化，並確認劣化後的特性是否仍能滿足時序的作法，稱為什麼？

正確答案：C. 考量老化（劣化）的可靠度設計

電晶體的特性在使用中會逐漸劣化，使電路變慢。考量劣化的可靠度設計，是依各電晶體所承受的電壓、溫度與工作率，以模型預測劣化量，並以劣化後的特性進行電路模擬或時序分析，確保餘裕以便直到壽命結束都能滿足規格。也有在運作中監測劣化，並逐步提高電源電壓以補償延遲的方法。

• A. 光微影是轉印圖案的製程。
• B. 晶圓的再生是重複利用使用過的監控晶圓。
• C. 正確。設計成即使在劣化後的特性下仍能運作。