可靠度

關於閘極絕緣膜的絕緣破壞壽命,必須考慮試驗所用元件的面積與實際晶片整體閘極面積之差異,其理由下列何者正確?

  1. A因為面積與壽命無關
  2. B因為面積越大,壽命必定越長
  3. C因為破壞是從弱點開始發生,面積越大,提早破壞的機率越高,所以需要依據韋伯分佈進行面積換算
查看答案與解析

正確答案:C. 因為破壞是從弱點開始發生,面積越大,提早破壞的機率越高,所以需要依據韋伯分佈進行面積換算

絕緣破壞被認為是最先發生在膜中最弱的地方(最弱連結)。面積越大,包含弱點的機率越高,壽命就越短。在韋伯分佈中,壽命與面積的−1/m次方成正比,因此例如斜率m=1.5且面積變為1000倍時,壽命變為1/100。藉由這個關係,將小型試驗元件的結果換算成晶片整體閘極的面積,估算產品的壽命。

  • A. 面積與壽命有很大的關係。
  • B. 面積越大,壽命越傾向變短。
  • C. 正確。面積越大越容易提早破壞,需要換算。
練習這個領域 前往領域頁面

可靠度的其他題目

  1. 在覆晶(flip chip)的焊料凸塊中,因大電流而使電遷移成為問題時,已知特別容易發生故障的位置是哪裡?
  2. 關於BTI的劣化,移除應力後臨界電壓的變化會有一部分恢復,就此現象在評估上的注意事項,下列何者正確?
  3. 為了評估宇宙射線中子造成軟錯誤的發生難易度,以遠強於實際環境的中子照射並在短時間內量測的方法,下列何者正確?
  4. 將TDDB的試驗結果外插到使用電壓時的模型,有以指數函數表示壽命與電場關係的E模型,以及以指數函數表示壽命與電場倒數關係的1/E模型。關於兩者的差異,下列何者正確?
  5. 下列哪一項是構成表示故障率隨時間變化的浴缸曲線(bathtub curve)的三個時期的正確組合?