新世代記憶體
關於 ReRAM(電阻式記憶體)的記憶原理,下列何者正確?
- A磁性層磁化方向的差異
- B對金屬氧化物等施加電壓,在高電阻狀態與低電阻狀態之間切換
- C電容中有無儲存電荷
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正確答案:B. 對金屬氧化物等施加電壓,在高電阻狀態與低電阻狀態之間切換
ReRAM 的結構簡單,是以電極夾住金屬氧化物等薄膜,施加電壓時,膜中由氧空缺聚集而成的導電細絲會形成或斷裂,使電阻改變 10 倍以上。元件小且可在後段製程製作,適合嵌入邏輯電路,以及以交叉點結構達成高密度化。已實用化為微控制器的嵌入式記憶體,電阻變異大是其課題。