テスト・検査

IEEE 1149.1(JTAG)で規定されたバウンダリスキャンの主な用途はどれか。

  1. Aウエハ上の膜厚の測定
  2. B配線のエレクトロマイグレーション評価
  3. Cプリント基板に実装したLSIの端子どうしの接続などを、プローブを当てずにテストする
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正解：C. プリント基板に実装したLSIの端子どうしの接続などを、プローブを当てずにテストする

バウンダリスキャンでは、LSIの各端子の内側にスキャン用のセルを設け、それらをシリアルにつないで外部から値を設定・観測します。基板上で端子にプローブを当てられないBGAなどでも、はんだ接続の不良などを検査できます。デバッグや書き込みにも使われます。

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