테스트와 검사
IEEE 1149.1(JTAG)에서 규정된 바운더리 스캔의 주된 용도는?
- A웨이퍼 위 막 두께의 측정
- B배선의 일렉트로마이그레이션 평가
- C인쇄 회로 기판에 실장한 LSI의 단자 간 접속 등을 프로브를 대지 않고 테스트한다
정답과 해설 보기
정답: C. 인쇄 회로 기판에 실장한 LSI의 단자 간 접속 등을 프로브를 대지 않고 테스트한다
바운더리 스캔에서는 LSI의 각 단자 안쪽에 스캔용 셀을 두고 이들을 직렬로 연결하여, TDI·TDO·TCK·TMS의 4개(와 리셋) 신호로 외부에서 값을 설정·관측합니다. 단자에 프로브를 댈 수 없는 BGA 등에서도 기판 위 솔더 접속의 단선이나 단락을 검사할 수 있습니다. 이 단자는 디버그나 플래시 메모리 쓰기에도 널리 사용됩니다.