車載半導体と機能安全

ISO 26262でいう潜在故障(レイテントフォールト)の例として最も適切なものはどれか。

  1. Aその故障が1つ起きるだけで、安全機構でも検出や制御ができずに、すぐに安全目標の侵害につながってしまう故障
  2. BECCの訂正回路が壊れていても、メモリに誤りが起きない間は何も起こらず、気づかれないまま残っている状態
  3. C安全機構によって検出され、運転者に警告灯で知らせることができた故障
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正解:B. ECCの訂正回路が壊れていても、メモリに誤りが起きない間は何も起こらず、気づかれないまま残っている状態

潜在故障は、それだけでは危険にならず、安全機構でも運転者でも気づかれないまま残っている故障です。例えば安全機構であるECCの訂正回路が壊れていても、メモリに誤りがなければ表に出ません。その後メモリにビット誤りが起きると訂正されず、危険につながります。2つの故障が重なって初めて危険になるので、潜在故障の割合が小さいことを潜在故障指標(LFM)で評価します。すぐに危険になる故障は単一点故障、検出できた故障は潜在故障ではありません。

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  1. 安全に関係するハードウェアの故障率の合計が1000 FITで、そのうち単一点故障と残余故障(安全機構で検出されずに残る故障)の故障率の合計が5 FITのとき、単一点故障指標(SPFM)はいくらか。
  2. 故障率200 FITの回路に、診断カバレッジ99%の安全機構を設けた。安全機構で検出されずに残る故障の故障率はいくらか。
  3. ISO 26262のフォールトトレラント時間間隔(FTTI)の説明として正しいものはどれか。
  4. 車載マイコンの安全機構として使われるロックステップCPUの仕組みとして正しいものはどれか。
  5. ロックステップCPUで、2つのコアの実行を数クロックずらしたり、チップ上で2つのコアを離して配置したりする主な理由はどれか。