Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Hoe heet de grootheid die per defecttype dat bij defectinspectie is gevonden, het aandeel van de chips met dat defect aangeeft dat daadwerkelijk elektrisch defect werd?

  1. AAspectverhouding
  2. BSelectiviteit
  3. CKill ratio (fatale verhouding)
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Kill ratio (fatale verhouding)

De kill ratio is het aandeel van de chips met een bepaald type defect dat bij de test defect wordt. Een vreemd deeltje van dezelfde grootte is fataal als het op een laag met dichte bedrading valt, maar onschadelijk op een plek zonder bedrading; het resultaat hangt dus af van type, grootte en laag van het defect. Als de kill ratio bekend is, is duidelijk voor welke defecten met voorrang maatregelen nodig zijn, en kan uit inline-inspectiegegevens ook de uiteindelijke yield worden voorspeld.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Welke inhoud van de wet van Little, die het verband beschrijft tussen de hoeveelheid onderhanden werk (WIP), de verwerkingssnelheid (doorvoer) en de cyclustijd in een fabriek, is juist?
  2. Hoe heet de analyse die uit de productiegeschiedenis van veel loten statistisch de apparatuur, kamers, materialen enzovoort opspoort die gemeenschappelijk zijn gebruikt voor loten met lage yield?
  3. Welke statistische procesbeheersingsmethode bewaakt meerdere onderling gecorreleerde kenmerkwaarden niet afzonderlijk maar gezamenlijk, en detecteert afwijkingen als combinatie?
  4. Hoe heet het afstellen en beheren van meerdere apparaten van hetzelfde type, zodat de verschillen in bewerkingsresultaat tussen apparaten of kamers klein worden?
  5. Uit één wafer worden 500 chips verkregen, waarvan er 450 goed zijn. Hoe groot is de yield van deze wafer?