Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Uit één wafer worden 500 chips verkregen, waarvan er 450 goed zijn. Hoe groot is de yield van deze wafer?

  1. A80 %
  2. B90 %
  3. C95 %
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. 90 %

De yield wordt berekend als aantal goede chips ÷ totaal aantal chips. 450 ÷ 500 = 0,9, dus de yield is 90 %. Bij 80 % zouden 400 chips goed zijn en bij 95 % 475 chips. In werkelijke fabrieken worden de lijnyield van de front-endprocessen, de yield van de wafertest en de yield van assemblage en eindtest per stap beheerd en met elkaar vermenigvuldigd tot de totale yield. Zelfs een stijging van de yield met 1 procentpunt heeft grote invloed op de winst.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Wat gebeurt er in het algemeen met de yield wanneer bij gelijke defectdichtheid het chipoppervlak groter wordt?
  2. Hoe worden de regelgrenzen in een regelkaart (Shewhart-regelkaart) voor procesbeheersing in het algemeen vastgesteld?
  3. Wat is het juiste doel van het paretodiagram dat bij kwaliteitsbeheer wordt gebruikt?
  4. Welke formule geeft de procescapabiliteitsindex Cp (wanneer het midden van de specificatie samenvalt met het procesgemiddelde)? (σ: standaardafwijking van het proces)
  5. Hoe heet bij de oorzaken van yieldverlies een defect dat zich herhaaldelijk voordoet in een bepaald patroon, bijvoorbeeld door de onderlinge afstemming van ontwerp en productieproces?