테스트와 검사

고속 시리얼 통신 인터페이스 테스트에서, 칩의 송신 회로 출력을 수신 회로로 되돌려 연결하여 칩 자체로 통신을 확인하는 방법은?

  1. AIDDQ 테스트
  2. B번인
  3. C루프백 테스트
정답과 해설 보기

정답: C. 루프백 테스트

수십 Gb/s에 이르는 고속 SerDes 등을 테스터만으로 직접 측정하기는 어렵고 비쌉니다. 루프백 테스트에서는 송신 회로에서 의사 난수 데이터를 내보내 수신 회로로 되돌리고, 칩 내의 회로에서 비트 오류를 셉니다. 칩 안에서 되돌리는 방법과, 로드 보드 위의 배선으로 바깥을 통해 되돌리는 방법이 있으며, 범용 테스터로 고속 인터페이스를 효율적으로 테스트할 수 있습니다.

  • A. IDDQ 테스트는 정지 시 전원 전류로 결함을 검출하는 테스트입니다.
  • B. 번인은 초기 불량을 제거하는 스트레스 시험입니다.
  • C. 올바릅니다. 송신을 수신으로 되돌려 확인하는 방법입니다.
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테스트와 검사의 다른 문제

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