Betrouwbaarheid

Welke uitspraak over latch-up in CMOS-schakelingen is juist?

  1. AEen normale werking om gegevens vast te houden
  2. BEen verschijnsel waarbij een parasitaire thyristorstructuur gaat geleiden en voortdurend een grote stroom tussen voeding en aarde vloeit
  3. CEen verschijnsel waarbij de klok stopt
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Een verschijnsel waarbij een parasitaire thyristorstructuur gaat geleiden en voortdurend een grote stroom tussen voeding en aarde vloeit

In de CMOS-structuur vormen de wells en het substraat van pMOS en nMOS parasitair een PNPN-thyristor, een combinatie van parasitaire PNP- en NPN-transistors. Als door ruis of overspanning op de ingang stroom door het substraat vloeit en deze gaat geleiden, versterken ze elkaars stroom en blijft er een grote stroom tussen voeding en aarde vloeien die pas stopt als de voeding wordt uitgeschakeld, en in het ergste geval brandt het component door. Het wordt voorkomen door versterking van de well-contacten, guard rings, SOI e.d.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Betrouwbaarheid

  1. Welk verschijnsel is het, waarbij ladingdragers die door het sterke veld nabij de drain zijn versneld in de gate-isolator worden geïnjecteerd en de eigenschappen van de transistor verslechteren?
  2. Welke storing wordt bij de test met hoge temperatuur, hoge vochtigheid en voorspanning (THB en HAST) hoofdzakelijk beoordeeld?
  3. Welke verdeling wordt veel gebruikt bij de analyse van betrouwbaarheidsgegevens en kan, afhankelijk van de waarde van de vormparameter, vroege uitval, toevallige uitval en slijtage-uitval weergeven?
  4. Welk verschijnsel is het, waarbij ook zonder stroom door spanning in de bedrading metaalatomen verplaatsen en holtes ontstaan?
  5. Hoe heet het verschijnsel waarbij vanaf het oppervlak van een tinplating naaldvormige metaalkristallen groeien en kortsluiting met een naburige aansluiting veroorzaken?