Halfgeleiderfysica

Welke vergelijking tussen de mobiliteit van elektronen en gaten in silicium is juist?

  1. ADe mobiliteit van elektronen is groter
  2. BDe mobiliteit van gaten is groter
  3. CBeide zijn altijd gelijk
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. De mobiliteit van elektronen is groter

In silicium bedraagt bij kamertemperatuur en lage dotering de mobiliteit van elektronen ca. 1400 cm²/V·s en die van gaten ca. 450 cm²/V·s, dus elektronen zijn ca. 3 keer groter. De belangrijkste reden is de grotere effectieve massa van gaten. Daarom kan bij dezelfde afmetingen een nMOS een grotere stroom voeren, en wordt in CMOS standaard de gatebreedte van de pMOS 2 tot 3 keer die van de nMOS gemaakt om de aandrijfkracht gelijk te trekken. In geavanceerde processen wordt de mobiliteit van pMOS verhoogd door compressieve spanning met SiGe.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Halfgeleiderfysica

  1. Welke uitspraak over de ligging van het Fermi-niveau in een n-type halfgeleider is juist?
  2. Welke uitspraak over de temperatuurafhankelijkheid van de weerstandsfactor (resistiviteit) van een intrinsieke halfgeleider is juist?
  3. Wat is het product van de elektronendichtheid n en de gatendichtheid p (n×p) van een halfgeleider in thermisch evenwicht? (ni: intrinsieke ladingdragerdichtheid)
  4. Wat is de oorzaak van een diffusiestroom in een halfgeleider?
  5. Wat is een typische factor die de levensduur van minderheidsladingdragers in silicium verkort?