Test et inspection

Quel est le principal avantage des cartes à pointes de type vertical, dont les pointes sont disposées perpendiculairement aux plots ?

  1. ALe wafer ne peut pas être chauffé
  2. BElles se prêtent bien à l'augmentation du nombre de pointes et à la réduction du pas pour la mesure simultanée de nombreuses puces, ainsi qu'aux plots disposés en matrice
  3. CUne seule pointe peut être utilisée
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Réponse : B. Elles se prêtent bien à l'augmentation du nombre de pointes et à la réduction du pas pour la mesure simultanée de nombreuses puces, ainsi qu'aux plots disposés en matrice

Le type traditionnel en porte-à-faux (cantilever) touche les plots avec des pointes inclinées venant du côté, ce qui convient aux plots disposés en périphérie de la puce. Les sondes verticales et MEMS peuvent être disposées en grille dense ; elles conviennent donc aux produits à nombreuses broches dont les plots couvrent toute la surface de la puce, ainsi qu'à la mesure simultanée de nombreuses puces. Le mouvement vertical des pointes permet aussi de réduire les traces de pointes. La possibilité de chauffer dépend du chuck du prober.

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Autres questions sur Test et inspection

  1. Au fil du test sur wafer, des débris d'aluminium des plots, etc. adhèrent à l'extrémité des pointes. Quel traitement est alors effectué périodiquement ?
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