테스트와 검사

프로브 카드의 방식 중, 바늘을 패드에 대해 수직으로 세워 늘어놓는 수직형의 주된 장점은?

  1. A웨이퍼를 가열할 수 없다
  2. B다수 칩을 동시에 측정하는 다핀·좁은 피치화나, 에리어에 늘어선 패드에 대응하기 쉽다
  3. C바늘을 1개밖에 사용할 수 없다
정답과 해설 보기

정답: B. 다수 칩을 동시에 측정하는 다핀·좁은 피치화나, 에리어에 늘어선 패드에 대응하기 쉽다

종래의 캔틸레버형은 옆에서 뻗은 비스듬한 바늘로 패드에 닿기 때문에, 칩 주변에 늘어선 패드에 적합했습니다. 수직형이나 MEMS형 프로브는 바늘을 격자 모양으로 촘촘하게 늘어놓을 수 있어, 다핀이면서 패드가 칩 전면에 늘어선 품종이나 다수 칩의 동시 측정에 적합합니다. 바늘이 수직으로 움직이므로 바늘 자국도 작게 할 수 있습니다. 가열 가능 여부는 프로버의 척으로 정해집니다.

  • A. 가열 가능 여부는 프로버의 척으로 정해집니다.
  • B. 올바릅니다. 다핀·좁은 피치나 에리어 배치에 대응하기 쉬운 방식입니다.
  • C. 수직형은 다수의 바늘을 늘어놓을 수 있습니다.
이 분야 연습하기 분야로 돌아가기

테스트와 검사의 다른 문제

  1. 웨이퍼 테스트를 계속하면 프로브의 바늘 끝에 패드의 알루미늄 부스러기 등이 부착됩니다. 이때 정기적으로 하는 처리는?
  2. 프로버에서 웨이퍼를 올리는 대(척)의 온도를 고온이나 저온으로 제어할 수 있게 하는 목적은?
  3. 논리 회로 테스트에서 스캔 등을 사용하여 회로의 구조상 고장(고착 고장 등)을 망라적으로 검출하는 테스트와, 실제 동작대로 기능을 확인하는 테스트의 명칭 조합으로 올바른 것은?
  4. 테스트 판정이 너무 엄격하거나 측정이 불안정하여, 본래 양품인 칩을 불량으로 판정해 버리는 것을 무엇이라고 부릅니까?
  5. 메모리 테스트에서 어느 주소의 어느 비트가 불량이었는지를 기록한 그림을 만드는 주된 목적은?