Wie heißt im Entwurf modernster LSIs das Vorgehen, das die Degradation von Transistoren durch BTI und HCI während der Nutzungsdauer einrechnet und prüft, ob das Timing auch mit den Eigenschaften nach der Degradation eingehalten wird?

Antwort: C. Zuverlässigkeitsentwurf unter Berücksichtigung der Alterung (Aging)

Die Eigenschaften von Transistoren degradieren im Betrieb allmählich, und die Schaltung wird langsamer. Beim Zuverlässigkeitsentwurf mit Berücksichtigung der Degradation wird das Ausmaß der Degradation aus Spannung, Temperatur und Aktivität jedes Transistors mit Modellen vorhergesagt, und mit den Eigenschaften nach der Degradation werden Schaltungssimulation und Timing-Analyse durchgeführt, um bis zum Lebensende Reserve für die Einhaltung der Spezifikation zu sichern. Es gibt auch Verfahren, die die Degradation im Betrieb überwachen und die Versorgungsspannung allmählich anheben, um Verzögerungen auszugleichen.