Was ist TDDB (zeitabhängiger dielektrischer Durchbruch, time-dependent dielectric breakdown)?
Phänomen, bei dem eine Isolierschicht unter dauerhafter Spannung schließlich durchbricht, selbst unterhalb ihrer Durchbruchspannung. Es dient zur Lebensdauerbewertung von Gateoxiden und Ähnlichem.
Japanische Bezeichnung: TDDB(経時絶縁破壊)
Fachgebiet: Zuverlässigkeit