Die durch elektrischen Strom verursachte Wanderung von Metallatomen in Leiterbahnen. Sie erzeugt Hohlräume und Hügel (Hillocks), die zu Unterbrechungen oder Kurzschlüssen führen.
Japanische Bezeichnung: エレクトロマイグレーション
Fachgebiet: Zuverlässigkeit
Arrhenius-Modell Badewannenkurve ESD (elektrostatische Entladung) FIT (Failures in Time) Heiße-Ladungsträger-Injektion (HCI) Latch-up MTTF (mittlere Zeit bis zum Ausfall, mean time to failure) NBTI (Negative-Bias-Temperatur-Instabilität) Soft Error (temporärer Bitfehler) TDDB (zeitabhängiger dielektrischer Durchbruch, time-dependent dielectric breakdown)