Modell, in dem Reaktions- oder Degradationsraten mit der Temperatur wie exp(−Ea/kT) variieren. Es dient dazu, aus beschleunigten Tests bei höherer Temperatur die Lebensdauer bei Betriebstemperatur abzuschätzen.
Japanische Bezeichnung: アレニウスモデル
Fachgebiet: Zuverlässigkeit
Badewannenkurve Elektromigration ESD (elektrostatische Entladung) FIT (Failures in Time) Heiße-Ladungsträger-Injektion (HCI) Latch-up MTTF (mittlere Zeit bis zum Ausfall, mean time to failure) NBTI (Negative-Bias-Temperatur-Instabilität) Soft Error (temporärer Bitfehler) TDDB (zeitabhängiger dielektrischer Durchbruch, time-dependent dielectric breakdown)