測試與檢查

車用半導體不只在室溫,也在高溫與低溫下進行測試,其主要理由為下列何者?

  1. A為了保證在所使用的寬廣溫度範圍內能正確運作
  2. B為了縮短測試時間
  3. C為了降低測試成本
查看答案與解析

正確答案:A. 為了保證在所使用的寬廣溫度範圍內能正確運作

汽車的使用環境從寒冷地區到烈日下的引擎室,溫度範圍非常寬廣。車用規格AEC-Q100中,最嚴格的Grade 0要求−40~150 ℃。半導體的特性會因溫度而改變,例如高溫時漏電流增加、低溫時時序改變,因此也要在高溫與低溫下測試,確認在整個範圍內都符合規格。時間與成本反而會增加。

練習這個領域 前往領域頁面

測試與檢查的其他題目

  1. 在記憶體測試中,一邊依序走訪位址,一邊反覆寫入與讀出0和1,也能偵測相鄰單元之間干擾等不良的測試圖樣為下列何者?
  2. 關於ATE(自動測試設備)的說明,下列何者正確?
  3. 在晶圓測試中,探針的針接觸電極焊墊之後,再稍微往下壓以確保接觸,稱為什麼?
  4. 可測試性設計所要提高的兩項性質,其組合下列何者正確?
  5. 在接近實際使用狀態的環境中執行作業系統或應用程式,以判定晶片良否的測試稱為什麼?