新世代記憶體

ReRAM 單元的電阻值變異大所造成的課題,下列何者正確?

  1. A區分高電阻與低電阻的餘裕變小,多值化與大容量化變得困難
  2. B寫入變得太快
  3. C單元變輕
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正確答案:A. 區分高電阻與低電阻的餘裕變小,多值化與大容量化變得困難

ReRAM 中,導電細絲的粗細與位置是機率性決定的,因此電阻值不僅在單元之間(元件間)變異,同一個單元每次寫入(週期間)也會變異。當高電阻與低電阻的分布互相接近,讀取餘裕就變小,多值化與大規模陣列的實現變得困難。對策有寫入後確認並變更條件的方式,以及控制電流上限使電阻一致的方法。

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