DRAM 在DRAM中，短時間內多次啟動某一列，有時會使相鄰列的資料翻轉，這種現象稱為什麼？ A軟性錯誤 B列錘擊（Row Hammer） C閂鎖效應 查看答案與解析 正確答案：B. 列錘擊（Row Hammer） 列錘擊是指在短時間內將同一列啟動數萬次，因字元線的電壓變動或電荷移動，使相鄰列單元的電荷流失、資料翻轉的現象。2014年被廣泛報告，並證明可被用於權限提升等攻擊。作為對策，DRAM與控制器中內建了額外更新頻繁啟動之列的相鄰列的機制（TRR、DDR5的RFM等）。