信頼性

宇宙線の中性子によるソフトエラーの起こりやすさを評価するため、実際の環境よりはるかに強い中性子を当てて短時間で測る方法として正しいものはどれか。

  1. A加速器などの中性子ビームを照射する加速試験
  2. Bチップを冷凍庫に入れる
  3. Cチップに強い光を当てる
答えと解説を見る

正解:A. 加速器などの中性子ビームを照射する加速試験

地上の中性子の量は少ないため、実際の環境で十分な数のソフトエラーを観測するには長い時間がかかります。そこで、加速器施設などで強い中性子ビームを照射し、短時間で発生したエラーの数から、実際の環境でのソフトエラー率(FIT)を推定します。

  • A. 正しい。強い中性子ビームを照射して加速試験を行います。
  • B. 冷やしても中性子によるエラーは評価できません。
  • C. 光では中性子による現象を再現できません。
この分野を解く 分野ページへ

信頼性のほかの問題

  1. TDDBの試験結果を使用電圧に外挿するときのモデルとして、寿命を電界に対して指数関数で表すEモデルと、電界の逆数に対して指数関数で表す1/Eモデルがある。両者の違いについて正しいものはどれか。
  2. 故障率の時間変化を表すバスタブ曲線を構成する3つの期間の組み合わせとして正しいものはどれか。
  3. エレクトロマイグレーションの説明として正しいものはどれか。
  4. MTBF(平均故障間隔)の説明として正しいものはどれか。
  5. 温度を上げて寿命試験の時間を短縮する加速試験で、温度と寿命の関係を表すためによく使われるモデルはどれか。