Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Welk voorbeeld toont bij het analyseren van yieldgegevens aan dat twee grootheden met elkaar kunnen correleren zonder dat de een de oorzaak van de ander is?

  1. AConclusies trekken zonder naar de gegevens te kijken
  2. BOok als de yield van loten die op een bepaald apparaat zijn bewerkt laag is, kan een andere factor beide beïnvloeden, bijvoorbeeld doordat toevallig veel moeilijke producttypen via dat apparaat liepen
  3. CBij correlatie is er altijd een oorzakelijk verband
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Ook als de yield van loten die op een bepaald apparaat zijn bewerkt laag is, kan een andere factor beide beïnvloeden, bijvoorbeeld doordat toevallig veel moeilijke producttypen via dat apparaat liepen

Correlatie geeft alleen aan dat twee grootheden de neiging hebben samen te veranderen en bewijst geen oorzakelijk verband. Als bijvoorbeeld veel moeilijke producttypen via een bepaald apparaat lopen, lijkt de yield laag ook al is er niets mis met het apparaat. Zo kan een gemeenschappelijke andere factor (confounder) beide beïnvloeden. Het is belangrijk om de werkelijke oorzaak vast te stellen door te stratificeren naar producttype en te vergelijken, of door te controleren met experimenten onder gelijke voorwaarden.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Welke beschrijving van pogingen om de yield te verhogen door in de fabriek opgeslagen grote hoeveelheden apparatuurdata, meetdata en testresultaten met onder meer machine learning te analyseren is juist?
  2. Welk model wordt gebruikt als yieldmodel waarin wordt meegenomen dat defecten op de wafer ongelijk verdeeld en geclusterd optreden (clustering)?
  3. Hoe heet de grootheid die per defecttype dat bij defectinspectie is gevonden, het aandeel van de chips met dat defect aangeeft dat daadwerkelijk elektrisch defect werd?
  4. Welke inhoud van de wet van Little, die het verband beschrijft tussen de hoeveelheid onderhanden werk (WIP), de verwerkingssnelheid (doorvoer) en de cyclustijd in een fabriek, is juist?
  5. Hoe heet de analyse die uit de productiegeschiedenis van veel loten statistisch de apparatuur, kamers, materialen enzovoort opspoort die gemeenschappelijk zijn gebruikt voor loten met lage yield?