Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Wat gebeurt er in het algemeen met de yield wanneer bij gelijke defectdichtheid het chipoppervlak groter wordt?

  1. ADeze daalt
  2. BDeze neemt toe
  3. CDeze verandert niet
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Deze daalt

In het Poissonmodel wordt de yield uitgedrukt als Y = exp(−D × A) (D: defectdichtheid, A: chipoppervlak). Wanneer defecten willekeurig vallen, neemt bij een groter oppervlak de kans toe dat een chip één of meer defecten bevat, zodat de yield exponentieel daalt. Dit is een van de redenen waarom chiplets, waarbij een grote chip in meerdere kleine chips wordt verdeeld, de aandacht trekken; van kleine chips kunnen alleen goede exemplaren worden geselecteerd en gecombineerd.

Chipoppervlak en yield (dezelfde defectposities) Kleine chip ,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,, ,,,,,,,,,,, Grote chip ,,, ,,,,,,,,,,, Goede chips 18 / 24 (75%) Goede chips 1 / 4 (25%) Defect Defecte chip (bevat een defect)
Chipoppervlak en yield (dezelfde defectposities) · Bekijken in het figurenoverzicht
Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Hoe worden de regelgrenzen in een regelkaart (Shewhart-regelkaart) voor procesbeheersing in het algemeen vastgesteld?
  2. Wat is het juiste doel van het paretodiagram dat bij kwaliteitsbeheer wordt gebruikt?
  3. Welke formule geeft de procescapabiliteitsindex Cp (wanneer het midden van de specificatie samenvalt met het procesgemiddelde)? (σ: standaardafwijking van het proces)
  4. Hoe heet bij de oorzaken van yieldverlies een defect dat zich herhaaldelijk voordoet in een bepaald patroon, bijvoorbeeld door de onderlinge afstemming van ontwerp en productieproces?
  5. Welk diagram toont het verband tussen een probleem (resultaat) en de factoren die dit beïnvloeden in de vorm van een visgraat?