Comment appelle-t-on la méthode qui modifie dynamiquement, par puce ou par lot, les éléments de test et les seuils en fonction des résultats intermédiaires et des statistiques du test sur wafer, etc. ?

Réponse : A. Test adaptatif

Le test adaptatif ajoute ou supprime des tests et modifie les seuils en fonction des résultats des étapes précédentes ou des autres puces du même wafer, de la détection statistique des valeurs aberrantes, etc. Par exemple, le PAT (Part Average Testing), qui écarte les puces dont les valeurs, bien que dans la spécification, s'éloignent fortement de celles des puces voisines, est utilisé dans l'automobile pour réduire les défauts latents. Il permet de réduire le temps de test tout en maintenant la qualité.