Test und Prüfung

Wie heißt die automatische Erzeugung von Testmustern zur Fehlererkennung aus der Netzliste einer Schaltung?

  1. ADRC
  2. BATPG (Automatic Test Pattern Generation)
  3. CCTS
Antwort und Erläuterung anzeigen

Antwort: B. ATPG (Automatic Test Pattern Generation)

ATPG ist eine Technik, die auf Basis von Fehlermodellen wie Haftfehlern aus der Netzliste automatisch Eingangsmuster erzeugt, mit denen sich jeder Fehler bis zum Ausgang fortpflanzen und erkennen lässt. In Kombination mit Scan-Design können auch für Schaltungen mit Hunderten Millionen Gattern effizient Muster mit hoher Fehlerabdeckung erstellt werden. DRC ist die Prüfung der Entwurfsregeln des Layouts, CTS die Synthese des Taktbaums; beides sind Entwurfsprozesse.

Dieses Thema üben Zur Themenseite

Weitere Fragen zu Test und Prüfung

  1. Wie heißt der Test, der den Versorgungsstrom einer CMOS-Schaltung im Ruhezustand misst, um Defekte wie Brückenfehler zu erkennen?
  2. Wofür wird das in IEEE 1149.1 (JTAG) festgelegte Boundary Scan hauptsächlich verwendet?
  3. Welche Anlage liefert beim Endtest nach dem Packaging zusammen mit einem Tester ICs automatisch zu und sortiert sie nach dem Testergebnis?
  4. Wie heißt die Darstellung, in der Bestehen oder Nichtbestehen bei veränderten Bedingungen wie Versorgungsspannung und Betriebsfrequenz in einem zweidimensionalen Diagramm zusammengefasst ist?
  5. Welcher Testablauf eines üblichen Halbleiterprodukts ist richtig?