Test und Prüfung

Wie heißt das Verfahren, bei dem mehrere Chips gleichzeitig mit dem Tester gemessen werden, um die Testkosten zu senken?

  1. ABurn-in
  2. BMulti-Site-Test (gleichzeitige Messung)
  3. CWire Bonding
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Antwort: B. Multi-Site-Test (gleichzeitige Messung)

Die Testkosten sind etwa proportional zur Nutzungszeit des teuren Testers. Beim Multi-Site-Test werden mit einem Tester mehrere Chips parallel gemessen, wodurch Testzeit und Kosten pro Chip sinken. Beim Speichertest werden mitunter einige hundert Chips gleichzeitig gemessen. Da für jeden gleichzeitig gemessenen Chip Testerkanäle benötigt werden, wird dies mit Maßnahmen kombiniert, die die nötigen Pins durch BIST oder Scan-Kompression verringern.

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