테스트와 검사

전공정을 마친 웨이퍼에서 TEG의 문턱 전압이나 시트 저항 등을 측정하여, 공정이 규격대로 만들어졌는지 확인하는 검사를 무엇이라고 부릅니까?

  1. AWAT(웨이퍼 억셉턴스 테스트) / 파라메트릭 테스트
  2. B최종 테스트
  3. C번인
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정답: A. WAT(웨이퍼 억셉턴스 테스트) / 파라메트릭 테스트

WAT는 전공정 완료 후에 TEG의 전기적 파라미터(문턱 전압, 온 전류, 시트 저항, 콘택트 저항 등)를 측정하는 검사입니다. 규격을 벗어난 웨이퍼는 뒤 공정으로 보내지 않으며, 데이터는 공정의 감시와 개선, 디바이스 모델의 검증에도 사용됩니다. 파운드리에서는 웨이퍼를 고객에게 인도할 때의 품질 증명도 됩니다. 칩의 기능을 조사하는 테스트와는 목적이 다릅니다.

  • A. 올바릅니다. 공정의 완성도를 파라미터로 확인하는 검사입니다.
  • B. 최종 테스트는 패키지 후 제품의 양부를 조사하는 검사입니다.
  • C. 번인은 초기 불량을 제거하기 위한 스트레스 시험입니다.
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테스트와 검사의 다른 문제

  1. 테스터와 IC를 연결하는 테스트용 지그로, 스프링으로 신축하는 가는 핀을 사용하여 단자에 확실하게 접촉시키는 부품은?
  2. 테스터의 테스트 헤드에 장착하여 IC의 소켓과 주변 부품을 싣고, 품종별로 신호를 IC로 끌어 주는 인쇄 회로 기판을 무엇이라고 부릅니까?
  3. 프로브 카드의 방식 중, 바늘을 패드에 대해 수직으로 세워 늘어놓는 수직형의 주된 장점은?
  4. 웨이퍼 테스트를 계속하면 프로브의 바늘 끝에 패드의 알루미늄 부스러기 등이 부착됩니다. 이때 정기적으로 하는 처리는?
  5. 프로버에서 웨이퍼를 올리는 대(척)의 온도를 고온이나 저온으로 제어할 수 있게 하는 목적은?