계측과 분석

중첩(오버레이) 어긋남을 계측하기 위해 웨이퍼 위에 마련하는 것은?

  1. A본딩 패드
  2. B노치
  3. C중첩 계측용 전용 마크
정답과 해설 보기

정답: C. 중첩 계측용 전용 마크

중첩 정밀도를 측정하기 위해 스크라이브 라인 등에 이전 층과 현재 층의 패턴을 조합한 전용 마크를 만듭니다. 광학식 장비로 두 패턴의 중심 어긋남을 측정하거나, 위아래 격자에서 오는 회절광의 차이로부터 어긋남을 구합니다. 결과는 웨이퍼 내 위치별 어긋남으로서 노광 장비에 보내져 다음 로트의 보정에 사용됩니다. 본딩 패드나 노치는 다른 목적의 것입니다.

이 분야 연습하기 분야로 돌아가기

계측과 분석의 다른 문제

  1. X선을 매우 얕은 각도로 입사시켜 반사율의 진동으로부터 박막의 두께와 밀도를 구하는 기법은?
  2. 웨이퍼의 휨(보우·워프)이나 평탄도 측정에 사용되는 방법으로 올바른 것은?
  3. 계측기의 반복성과 재현성이 관리하려는 공정 산포에 비해 충분히 작은지를 평가하는 기법은?
  4. 광학현미경으로 수십 nm의 미세 패턴을 직접 관찰할 수 없는 주된 이유는?
  5. 성막 전후의 웨이퍼 휨 변화로부터 막의 응력을 구할 때 사용되는 관계식은?

이 분야의 비교