PN接面與二極體

為使金屬與半導體的接觸成為歐姆接觸(電阻性接觸),常用的方法為下列何者?

  1. A將接觸的半導體表面高濃度摻雜,使載子容易以穿隧效應穿過障壁
  2. B將接觸的半導體表面設為低濃度
  3. C在金屬與半導體之間夾入厚的氧化膜
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正確答案:A. 將接觸的半導體表面高濃度摻雜,使載子容易以穿隧效應穿過障壁

金屬與半導體之間會形成蕭特基障壁,但若將半導體側高濃度摻雜(矽中約10¹⁹ cm⁻³以上),障壁寬度會變薄至數nm,載子便能以穿隧效應穿過。這樣就成為不論電流方向電阻都低的歐姆接觸。在先進的電晶體中,接觸電阻占整體電阻的很大比例,因此以矽化物的形成與極高的摻雜來降低。

  • A. 正確。以高濃度摻雜使障壁變薄,讓穿隧電流流動。
  • B. 設為低濃度會使障壁變厚,容易形成蕭特基接觸。
  • C. 夾入厚的絕緣膜會使電流不易流動。
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