Test und Prüfung
Wie heißt der Test, der den Versorgungsstrom einer CMOS-Schaltung im Ruhezustand misst, um Defekte wie Brückenfehler zu erkennen?
- AIDDQ-Test
- BFunktionstest
- CBurn-in
Antwort und Erläuterung anzeigen
Antwort: A. IDDQ-Test
Bei einer CMOS-Schaltung ist im Ruhezustand stets entweder der pMOS oder der nMOS gesperrt, sodass kaum Versorgungsstrom fließt. Bei Kurzschlüssen zwischen Leitbahnen (Brücken) oder Defekten im Gateoxid fließt im Ruhezustand Strom von der Versorgung zur Masse, sodass sich Defekte durch Messen des Versorgungsstroms im Ruhezustand (IDDQ) erkennen lassen. Mit der Miniaturisierung wird der Leckstrom jedoch größer, und die Unterscheidung von Gutteilen wird schwierig.