Welke belasting wordt bij HTOL aangebracht, maar niet bij een opslagtest bij hoge temperatuur?

Antwoord: C. Elektrische bias zoals de voedingsspanning

De opslagtest bij hoge temperatuur (HTS) houdt producten lange tijd op hoge temperatuur, bijvoorbeeld rond 150 °C, zonder spanning aan te leggen, en vergelijkt hun elektrische eigenschappen vooraf en achteraf. HTOL laat producten bij hoge temperatuur onder voedingsspanning werken en versnelt dus ook degradatie die door elektrisch veld of stroom wordt aangedreven, zoals TDDB en elektromigratie, terwijl de opslagtest bij hoge temperatuur de degradatie isoleert die alleen door temperatuur wordt aangedreven. Typische doelen zijn de groei van intermetallische verbindingen en de vorming van holtes bij verbindingen gemaakt door wirebonden, die de weerstand verhogen of de verbinding laten loskomen, de dataretentie in niet-vluchtig geheugen en de degradatie van materialen zoals de vormmassa. De test die vochtigheid en spanning tegelijk aanlegt, is de temperatuur-vochtigheid-biastest (THB).