Nederlands
Menu

Betrouwbaarheid

Welk model wordt vaak gebruikt om het verband tussen temperatuur en levensduur weer te geven bij versnelde testen waarbij de duur van levensduurtests wordt verkort door de temperatuur te verhogen?

  1. AWet van Moore
  2. BArrhenius-model
  3. CWet van Ohm
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Arrhenius-model

Het Arrhenius-model gaat ervan uit dat de reactiesnelheid van degradatie evenredig is met exp(−Ea/kT) (Ea: activeringsenergie, k: constante van Boltzmann, T: absolute temperatuur), wat aangeeft dat de levensduur exponentieel korter wordt bij hogere temperatuur. Het wordt gebruikt om uit testresultaten bij hoge temperatuur de levensduur bij de werkelijke gebruikstemperatuur te schatten. Ea verschilt per faalmechanisme en vaak worden waarden van ca. 0,5 tot 1 eV gebruikt. De wet van Moore en de wet van Ohm hebben niets met levensduur te maken.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Betrouwbaarheid

  1. Welke uitspraak over TDDB (time dependent dielectric breakdown) is juist?
  2. Wat is de juiste betekenis van FIT, de eenheid van uitvalsnelheid?
  3. Welke storing wordt bij de temperatuurcyclustest hoofdzakelijk beoordeeld?
  4. Wat wordt als ESD-maatregel (elektrostatische ontlading) aan de in- en uitgangsaansluitingen van een LSI aangebracht?
  5. Welk degradatieverschijnsel is het, waarbij de absolute waarde van de drempelspanning geleidelijk toeneemt als een negatieve gatespanning en hoge temperatuur voortdurend op een pMOS-transistor worden aangelegd?