Oxidatie en diffusie

Wat is de belangrijkste reden dat de drukspanning van door thermische oxidatie gevormde oxidefilm bij oxidatie bij hoge temperatuur, vanaf ongeveer 950 °C, kleiner wordt?

  1. AOmdat de oxidefilm bij hoge temperatuur viskeus kan vloeien en de spanning kan ontspannen
  2. BOmdat silicium smelt
  3. COmdat de oxidefilm kristalliseert
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Omdat de oxidefilm bij hoge temperatuur viskeus kan vloeien en de spanning kan ontspannen

Wanneer silicium SiO2 wordt, zet het volume ongeveer 2,2 keer uit, zodat de oxidefilm onder drukspanning staat. Bij hoge temperaturen vanaf ongeveer 950 °C kan amorf SiO2 langzaam stromen (viskeus vloeien), zodat de spanning ontspant. Bij oxidatie bij lage temperatuur blijft de spanning gemakkelijk bestaan, en bij uitstekende delen zoals de hoeken van STI-gleuven wordt de oxidatie door de spanning vertraagd, zodat de hoek scherp wordt, het veld zich concentreert en de eigenschappen verslechteren; daarom worden hoeken afgerond met oxidatie bij hoge temperatuur of ISSG.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Oxidatie en diffusie

  1. Wat is de juiste reden dat SiO2-film als masker voor diffusie van boor en fosfor kan worden gebruikt, maar nauwelijks als masker voor gallium en aluminium werkt?
  2. Welke uitleg is juist over het verschijnsel dat de diffusiecoëfficiënt van bijvoorbeeld arseen met de concentratie verandert in gebieden waar de onzuiverheidsconcentratie voldoende hoger is dan de intrinsieke dragerdichtheid?
  3. Welke eigenschap is juist bij thermische oxidatie van polykristallijn silicium (polysilicium) met veel onzuiverheden?
  4. Welke vergelijking van droge oxidatie (O2) en natte oxidatie (H2O) bij thermische oxidatie van silicium is juist?
  5. Hoeveel silicium wordt ongeveer verbruikt wanneer een SiO2-film met dikte x door thermische oxidatie van silicium wordt gevormd?

Vergelijkingen bij dit onderwerp