Oxidatie en diffusie

Hoeveel silicium wordt ongeveer verbruikt wanneer een SiO2-film met dikte x door thermische oxidatie van silicium wordt gevormd?

  1. AOngeveer 0,44x
  2. BOngeveer 1,0x
  3. COngeveer 2,2x
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Ongeveer 0,44x

Bij thermische oxidatie reageert het silicium zelf met zuurstof tot SiO2. Uit de verhouding van de atoomdichtheid van silicium (ongeveer 5,0×10²² cm⁻³) en de moleculedichtheid van SiO2 (ongeveer 2,3×10²² cm⁻³) volgt dat voor een oxidefilm met dikte x ongeveer 0,44x silicium wordt verbruikt. Ongeveer 44% van de oxidefilm ligt onder het oorspronkelijke oppervlak en 56% erboven; het volume zet ongeveer 2,2 keer uit. Daardoor ontstaat bij het geoxideerde deel een stap, en is het grensvlak steeds een nieuw, schoon oppervlak.

Groei van een oxidelaag door thermische oxidatie Voor de oxidatie Silicium Na de oxidatie SiO₂ (dikte x) Silicium Oorspronkelijk oppervlak ca. 0,56x ca. 0,44x Ongeveer 44% van de oxidedikte komt overeen met het verbruikte silicium
Groei van een oxidelaag door thermische oxidatie · Bekijken in het figurenoverzicht
Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Oxidatie en diffusie

  1. Welke relatie tussen de diffusiecoëfficiënt van onzuiverheden in silicium en de temperatuur is juist?
  2. Welke methode wordt hoofdzakelijk gebruikt voor elementisolatie in fijne LSI's?
  3. Welke relatie tussen oxidedikte en oxidatietijd is juist wanneer de oxidefilm bij thermische oxidatie voldoende dik is geworden?
  4. Wat is de juiste reden dat oxidefilms op silicium afhankelijk van de dikte in verschillende kleuren zichtbaar zijn?
  5. Welk apparaat wordt in het algemeen gebruikt om veel wafers tegelijk thermisch te oxideren?