Phénomène où des porteurs accélérés par le champ intense près du drain sont injectés dans l'isolant de grille, entraînant des dégradations comme une dérive de la tension de seuil ou une baisse du courant de commande.
Nom japonais: ホットキャリア注入(HCI)
« Injection de porteurs chauds (HCI) » apparaît dans 1 questions d'entraînement réparties sur 1 thèmes, dont Fiabilité.
Domaine: Fiabilité
Réponse : C. Conception en fiabilité tenant compte du vieillissement (aging)
Les caractéristiques des transistors se dégradent progressivement en utilisation et les circuits ralentissent. La conception en fiabilité tenant compte du vieillissement prédit par des modèles la dégradation à partir de la tension, de la température et du taux d'activité de chaque transistor, puis effectue simulations de circuit et analyses temporelles avec les caractéristiques dégradées pour assurer une marge garantissant le respect des spécifications jusqu'en fin de vie. Une autre méthode surveille la dégradation en fonctionnement et relève progressivement la tension d'alimentation pour compenser le ralentissement.
Courbe en baignoire Électromigration Erreur logicielle (soft error) ESD (décharge électrostatique) FIT Latch-up Loi de Weibull Modèle d'Arrhenius MTTF (durée moyenne avant défaillance) NBTI