Verschijnsel waarbij ladingdragers die door het sterke elektrische veld nabij de drain zijn versneld in de gate-isolator worden geïnjecteerd, wat degradatie veroorzaakt zoals verschuiving van de drempelspanning en afname van de aandrijfstroom.
Japanse benaming: ホットキャリア注入(HCI)
“Hot-carrierinjectie (HCI)” komt voor in 1 oefenvragen uit 1 onderwerpen, bijv. Betrouwbaarheid.
Vakgebied: Betrouwbaarheid
Antwoord: C. Betrouwbaarheidsontwerp met inachtneming van veroudering (degradatie)
De eigenschappen van transistors degraderen tijdens gebruik geleidelijk en de schakeling wordt trager. Bij betrouwbaarheidsontwerp met inachtneming van degradatie wordt de mate van degradatie met een model voorspeld uit spanning, temperatuur en activiteitsfactor van elke transistor, en worden schakelingssimulatie en timinganalyse met de eigenschappen na degradatie uitgevoerd om marge te waarborgen zodat tot het einde van de levensduur aan de specificatie wordt voldaan. Er bestaat ook een methode waarbij degradatie tijdens bedrijf wordt bewaakt en de voedingsspanning geleidelijk wordt verhoogd om de vertraging te compenseren.
Numerieke apertuur (NA) Activiteitsfactor (switching activity) Arrheniusmodel Badkuipcurve (bathtub curve) Elektromigratie ESD (elektrostatische ontlading) FIT Latch-up MTTF (gemiddelde tijd tot uitval) NBTI