Test et inspection

Comment appelle-t-on le diagramme bidimensionnel qui récapitule les résultats réussite/échec obtenus en faisant varier des conditions telles que la tension d'alimentation et la fréquence de fonctionnement ?

  1. ADiagramme de Pareto
  2. BCarte de wafer
  3. CShmoo plot
Afficher la réponse et l'explication

Réponse : C. Shmoo plot

Le shmoo plot indique, par exemple avec la fréquence de fonctionnement en abscisse et la tension d'alimentation en ordonnée, la réussite ou l'échec du test pour chaque condition sous forme de grille. Il montre d'un coup d'œil la plage de conditions dans laquelle le LSI fonctionne correctement (marge de fonctionnement), et la forme de la frontière de réussite permet de déterminer si un défaut est limité par la vitesse ou par la tension. Le diagramme de Pareto est un histogramme des défauts par ordre de fréquence, et la carte de wafer présente les résultats par position de puce.

S'entraîner sur ce thème Retour au thème

Autres questions sur Test et inspection

  1. Quel est l'enchaînement correct des tests d'un produit semi-conducteur courant ?
  2. Quels éléments sont principalement vérifiés lors du test AC ?
  3. Comment appelle-t-on la technique qui décompresse les vecteurs de test dans la puce et compresse les réponses afin de réduire le volume de données et le temps du test par scan ?
  4. Comment appelle-t-on le test réalisé à la fréquence de fonctionnement réelle pour détecter les défauts dans lesquels la propagation des signaux est trop lente ?
  5. Comment appelle-t-on le classement des produits selon leurs performances, comme la vitesse de fonctionnement ou la consommation, à partir des résultats de test ?

Comparatifs sur ce thème