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Fiabilité

Dans les essais de durée de vie en électromigration, quelle distribution statistique est couramment utilisée pour représenter la distribution des temps jusqu'à défaillance de nombreuses interconnexions ?

  1. ALa distribution binomiale
  2. BLa distribution log-normale
  3. CLa distribution uniforme
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Réponse : B. La distribution log-normale

Les temps de défaillance par électromigration présentent souvent, en logarithme du temps, une dispersion proche d'une loi normale ; on les analyse donc par une distribution log-normale. Une puce comptant des centaines de millions d'interconnexions, ce qui compte n'est pas la médiane, mais le temps au bout duquel une infime fraction (par exemple 0,1 ppm) des interconnexions défaille prématurément. On estime ce temps à partir de la médiane et de la dispersion, et l'on en déduit les règles de densité de courant admissible à la conception.

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