Betrouwbaarheid

Welke statistische verdeling wordt veel gebruikt om de verdeling van de tijd tot storing van veel bedradingen in een levensduurtest van elektromigratie weer te geven?

  1. ABinomiale verdeling
  2. BLognormale verdeling
  3. CUniforme verdeling
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Lognormale verdeling

De tijd tot storing door elektromigratie spreidt vaak ongeveer normaal wanneer de logaritme van de tijd wordt genomen, en wordt dus met een lognormale verdeling geanalyseerd. Omdat een chip vele honderden miljoenen bedradingen heeft, is niet de mediaan maar de tijd waarop een zeer klein deel (bijvoorbeeld 0,1 ppm) van de bedradingen vroeg uitvalt, van belang. Uit de mediaan en de spreiding van de verdeling wordt die tijd geschat en worden de ontwerpregels voor de toegestane stroomdichtheid bepaald.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Betrouwbaarheid

  1. Hoe heet de aanname waarin wordt samengevat aan welke omstandigheden van temperatuur, spanning en bedrijfstijd een product, bijvoorbeeld voor voertuigen, tijdens zijn levensduur wordt blootgesteld?
  2. Welke waarde ligt het dichtst bij de verwachte waarde van het aantal storingen in 1 jaar (ca. 8760 uur) wanneer 10.000 onderdelen met een uitvalsnelheid van 100 FIT worden gebruikt? (1 FIT = 1 storing per 10⁹ uur)
  3. Hoe heet het verschijnsel waarbij op printplaten e.d. in een vochtige omgeving metaal (zoals zilver of koper) tussen elektroden waarop spanning staat als ionen oplost, verplaatst, boomvormig neerslaat en kortsluiting veroorzaakt?
  4. Hoe heet de degradatie waarbij bij een nMOS-transistor met high-k/metal gate de drempelspanning verandert als langdurig een positieve spanning en hoge temperatuur op de gate worden aangelegd?
  5. Hoe heet de aanpak in het ontwerp van geavanceerde LSI’s waarbij, rekening houdend met degradatie van transistors door BTI en HCI tijdens de gebruiksperiode, wordt gecontroleerd of de timing ook met de eigenschappen na degradatie wordt gehaald?