일렉트로마이그레이션 수명 시험에서 다수 배선의 고장까지의 시간 분포를 나타내는 데 자주 쓰이는 통계 분포는?

정답: B. 로그 정규 분포

일렉트로마이그레이션에 의한 고장 시간은 시간의 로그를 취하면 정규 분포에 가까운 흩어짐을 보이는 경우가 많아 로그 정규 분포로 해석합니다. 칩에는 수억 개의 배선이 있으므로, 중앙값이 아니라 극히 일부(예를 들어 0.1 ppm)의 배선이 일찍 고장 나는 시간이 문제가 됩니다. 분포의 중앙값과 흩어짐으로부터 그 시간을 추정하여, 설계에서 허용되는 전류 밀도의 규칙을 정합니다.

• A. 이항 분포는 성공・실패 횟수의 분포이며 고장 시간의 분포가 아닙니다.
• B. 올바르다. 로그 정규 분포가 자주 사용됩니다.
• C. 균등 분포로는 고장 시간의 흩어짐을 나타낼 수 없습니다.