Zuverlässigkeit

Welche statistische Verteilung wird bei Lebensdauertests zur Elektromigration häufig zur Beschreibung der Verteilung der Ausfallzeiten vieler Leitungen verwendet?

  1. ABinomialverteilung
  2. BLognormalverteilung
  3. CGleichverteilung
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Antwort: B. Lognormalverteilung

Die Ausfallzeiten durch Elektromigration streuen häufig so, dass ihr Logarithmus nahezu normalverteilt ist, und werden mit einer Lognormalverteilung analysiert. Da ein Chip viele hundert Millionen Leitungen besitzt, ist nicht der Median, sondern die Zeit relevant, zu der ein winziger Teil (z. B. 0,1 ppm) der Leitungen früh ausfällt. Sie wird aus Median und Streuung der Verteilung abgeschätzt und dient zur Festlegung der im Entwurf zulässigen Stromdichteregeln.

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